[实用新型] 基于光学衍射的薄膜均匀性检测系统 – CN215865741U 全文链接一 全文链接二
| 基本信息 | |||
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申请号
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CN202121962899.7 |
申请日
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20210819 |
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公开（公告）号
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CN215865741U |
公开（公告）日
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20220218 |
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申请（专利权）人
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中国科学院合肥物质科学研究院;安徽中科德技智能科技有限公司 | ||
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申请人地址
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230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
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发明人
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董俊;马冬;何俊明;马凡;徐盼盼;姜铭坤;黄小文 | 专利类型 | 实用新型 |
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摘要
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本实用新型公开了一种基于光学衍射的薄膜均匀性检测系统，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；采集单元的输出端连接处理单元的输入端，处理单元的输出端连接存储单元，控制单元分别与成像单元、采集单元、处理单元相互连接；所述成像单元用于产生衍射光条纹图像，依次包括光源、滤光片和滚筒，光源发出光线经过滤光片来进行光源光强和波长调节，再经过滚筒和安放在载物台上的滚轮之间的缝隙得到衍射光条纹图像；所述采集单元包括载物台、多个线阵相机，载物台上薄膜被测区域形成的条纹图像反射到对应的线阵相机。本实用新型能够满足柔性薄膜均匀性检测所需的图像质量要求，实现薄膜表面的均匀性检测。 | ||
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主权项
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1.一种基于光学衍射的薄膜均匀性检测系统，其特征在于，包括成像单元、采集单元、处理单元、存储单元、控制单元；采集单元的输出端连接处理单元的输入端，处理单元的输出端连接存储单元，控制单元分别与成像单元、采集单元、处理单元相互连接；所述成像单元用于产生衍射光条纹图像，依次包括光源、滤光片和滚筒，光源发出光线经过滤光片来进行光源光强和波长调节，再经过滚筒和安放在载物台上的滚轮之间的缝隙得到衍射光条纹图像；所述采集单元包括载物台、多个线阵相机，载物台上薄膜被测区域形成的条纹图像反射到对应的线阵相机。 | ||
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IPC信息
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IPC主分类号
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G01M11/02 | ||
| G 物理
G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试 G01M11/02 光学性质的测试 |
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法律状态信息
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法律状态公告日
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20220218 |
法律状态
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授权 | 法律状态信息 |
CN202121962899 20220218 授权 授权
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代理信息
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代理机构名称
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合肥市上嘉专利代理事务所(普通合伙) 34125 |
代理人姓名
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李璐 |