[发明专利] 直接型X射线影像探测器及其制备方法 – CN114252031A 全文链接一   全文链接二

 
基本信息
申请号
CN202111400448.9
申请日
20211119
公开(公告)号
CN114252031A
公开(公告)日
20220329
申请(专利权)人
中国科学院深圳先进技术研究院
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区深圳大学城学苑大道1068号
发明人
薛冬峰;李云龙;陈慧雯;王晓明 专利类型 发明专利
摘要
本申请属于光电技术领域,尤其涉及一种直接型X射线影像探测器及其制备方法。其中,直接型X射线影像探测器的制备方法,包括以下步骤:将长链有机羧酸和有机配体合成离子液体;将离子液体、卤化碳族金属和卤盐溶解于有机溶剂中,得到前驱体凝胶;将前驱体凝胶在基底的像素阵列表面成膜,退火处理,在基底的像素阵列表面形成二维杂化钙钛矿的量子阵列膜层;制备电极层,得到直接型X射线影像探测器。本申请提供的直接型X射线影像探测器的制备方法,引入长链有机羧酸,降低[BX6]八面体聚集速率,提高前驱体溶液的黏度,构建单阱宽分布的量子阱阵列,提高了量子阵列膜层的成膜厚度,提高器件对X射线的吸收转化效率,实现对X射线的高清成像。
主权项
1.一种直接型X射线影像探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:将长链有机羧酸和有机配体合成离子液体;将所述离子液体、卤化碳族金属和卤盐溶解于有机溶剂中,得到前驱体凝胶;所述卤盐包括有机卤化铵或者卤化碱金属;获取表面分布有像素阵列的基底,将所述前驱体凝胶在所述基底的像素阵列表面成膜,退火处理,在所述基底的像素阵列表面形成二维杂化钙钛矿的量子阵列膜层;在所述量子阵列膜层背离所述基底的表面制备电极层,得到直接型X射线影像探测器。

 

 
IPC信息
IPC主分类号
G01B15/04
G 物理

G01 测量;测试

G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量

G01B15/04 用于计量轮廓或曲率

 

 
法律状态信息
法律状态公告日
20220329
法律状态
公开 法律状态信息
CN202111400448 20220329 公开 公开

 

 
代理信息
代理机构名称
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人姓名
曹柳