[发明专利] 消杂光遮光系统 – CN114166340A 全文链接一   全文链接二

 
基本信息
申请号
CN202111468605.X
申请日
20211203
公开(公告)号
CN114166340A
公开(公告)日
20220311
申请(专利权)人
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址
130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
发明人
叶新;张瀚元;方伟 专利类型 发明专利
摘要
本发明提供一种消杂光遮光系统,包括在同一光轴上依次设置的一级遮光罩、二级遮光罩;一级遮光罩包括与光轴垂直设置的一级挡光环组,一级挡光环组包括M个一级挡光环,M个挡光环依次设置在一级遮光罩的镜筒内;二级遮光罩包括与光轴倾斜设置的二级挡光环组,二级挡光环组包括N个二级挡光环,N个挡光环依次设置在二级遮光罩的镜筒内。本发明所提供的消杂光遮光系统在有限的空间内将太阳离轴角为45°时,入射杂散辐射抑制到系统探测地球辐射的0.05%,具有高杂光抑制比,增加地球辐射观测时长,并且节约发射成本。
主权项
1.一种消杂光遮光系统,其特征在于,包括在同一光轴上依次设置的一级遮光罩、二级遮光罩;其中,所述一级遮光罩包括与所述光轴垂直设置的一级挡光环组,所述一级挡光环组包括M个一级挡光环,M个一级挡光环依次设置在所述一级遮光罩的镜筒内;所述二级遮光罩包括与所述光轴倾斜设置的二级挡光环组,所述二级挡光环组包括N个二级挡光环,N个二级挡光环依次设置在所述二级遮光罩的镜筒内;其中,M≥6,N≥7;光束依次经过所述一级遮光罩、所述二级遮光罩消除杂光后入射至光学系统。

 

 
IPC信息
IPC主分类号
G01J1/02
G 物理

G01 测量;测试

G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法

G01J1/02 零部件

 

 
法律状态信息
法律状态公告日
20220311
法律状态
公开 法律状态信息
CN202111468605 20220311 公开 公开

 

 
代理信息
代理机构名称
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218
代理人姓名
高一明