[发明专利] 制造过程异常检测方法、电子设备、存储介质和程序产品 – CN114140638A 全文链接一 全文链接二
| 基本信息 | |||
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申请号
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CN202111261390.4 |
申请日
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20211028 |
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公开（公告）号
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CN114140638A |
公开（公告）日
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20220304 |
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申请（专利权）人
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中国科学院自动化研究所 | ||
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申请人地址
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100190 北京市海淀区中关村东路95号
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发明人
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谭杰;李媛;刘振杰 | 专利类型 | 发明专利 |
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摘要
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本发明提供一种制造过程异常检测方法、电子设备、存储介质和程序产品，其方法包括获取制造过程产生的信号数据；基于所述信号数据进行图像合成处理，获得合成图像；将所述合成图像输入至可连续学习的异常检测模型，进行异常情况检测和异常分类，获得所述异常检测模型输出的异常情况及其异常类型。本发明的异常检测模型具备连续学习的能力，在出现新异常情况时，可以不丧失该异常检测模型旧异常检测识别能力的同时，增加新异常情况的检测识别能力，从而提高异常检测模型的异常检测性能，最终提高制造过程的异常检测性能。 | ||
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主权项
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1.一种制造过程异常检测方法，其特征在于，包括：获取制造过程产生的信号数据；基于所述信号数据进行图像合成处理，获得合成图像；将所述合成图像输入至可连续学习的异常检测模型，进行异常情况检测和异常分类，获得所述异常检测模型输出的异常情况及其异常类型。 | ||
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IPC信息
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IPC主分类号
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G06V10/764 | ||
| G 物理
G06 计算；推算；计数 |
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法律状态信息
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法律状态公告日
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20220304 |
法律状态
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公开 | 法律状态信息 |
CN202111261390 20220304 公开 公开
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代理信息
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代理机构名称
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北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人姓名
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杨明月 |