[发明专利] 制造过程异常检测方法、电子设备、存储介质和程序产品 – CN114140638A 全文链接一   全文链接二

 
基本信息
申请号
CN202111261390.4
申请日
20211028
公开(公告)号
CN114140638A
公开(公告)日
20220304
申请(专利权)人
中国科学院自动化研究所
申请人地址
100190 北京市海淀区中关村东路95号
发明人
谭杰;李媛;刘振杰 专利类型 发明专利
摘要
本发明提供一种制造过程异常检测方法、电子设备、存储介质和程序产品,其方法包括获取制造过程产生的信号数据;基于所述信号数据进行图像合成处理,获得合成图像;将所述合成图像输入至可连续学习的异常检测模型,进行异常情况检测和异常分类,获得所述异常检测模型输出的异常情况及其异常类型。本发明的异常检测模型具备连续学习的能力,在出现新异常情况时,可以不丧失该异常检测模型旧异常检测识别能力的同时,增加新异常情况的检测识别能力,从而提高异常检测模型的异常检测性能,最终提高制造过程的异常检测性能。
主权项
1.一种制造过程异常检测方法,其特征在于,包括:获取制造过程产生的信号数据;基于所述信号数据进行图像合成处理,获得合成图像;将所述合成图像输入至可连续学习的异常检测模型,进行异常情况检测和异常分类,获得所述异常检测模型输出的异常情况及其异常类型。

 

 
IPC信息
IPC主分类号
G06V10/764
G 物理

G06 计算;推算;计数

 

 
法律状态信息
法律状态公告日
20220304
法律状态
公开 法律状态信息
CN202111261390 20220304 公开 公开

 

 
代理信息
代理机构名称
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人姓名
杨明月