[发明专利] 一种X射线Talbot-Lau光栅相衬成像方法 – CN114113167A 全文链接一   全文链接二

 
基本信息
申请号
CN202111446517.X
申请日
20211126
公开(公告)号
CN114113167A
公开(公告)日
20220301
申请(专利权)人
中国科学技术大学
申请人地址
230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号
发明人
吴朝;林绮思;关勇;高昆;刘刚;田扬超;陆亚林 专利类型 发明专利
摘要
本公开提供一种X射线Talbot‑Lau光栅相衬成像方法,包括:S1:基于现实设计条件和要求完成传统Talbot‑Lau成像系统基本参数设定;S2:根据基本参数计算成像系统的理论总长度;S3:根据理论总长度和目标长度确定缩放因子;以及S4:根据缩放因子对成像系统整体进行伸缩调整,完成X射线Talbot‑Lau光栅相衬成像。成像系统,包括:X射线源,用于提供X射线照明;源光栅,用于将X射线分成多个内部相干、相互之间空间非相干的小尺寸的线型X射线源;可调相位光栅,能够沿光轴方向移动,用于在线型X射线源照射下产生干涉图样;可调分析光栅,能够与可调相位光栅同向移动,用于解析干涉图样;X射线探测器,用于数据的采集;以及计算机,用于数据储存以及数据分析处理。
主权项
1.一种X射线Talbot‑Lau光栅相衬成像方法,包括:操作S1:基于现实设计条件和要求完成传统Talbot‑Lau成像系统基本参数设定;操作S2:根据所述基本参数计算成像系统的理论总长度;操作S3:根据所述理论总长度和目标长度确定缩放因子;以及操作S4:根据所述缩放因子对成像系统整体进行伸缩调整,完成X射线Talbot‑Lau光栅相衬成像。

 

 
IPC信息
IPC主分类号
G01N23/041
G 物理

G01 测量;测试

G01N 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料

 

 
法律状态信息
法律状态公告日
20220301
法律状态
公开 法律状态信息
CN202111446517 20220301 公开 公开

 

 
代理信息
代理机构名称
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人姓名
樊晓