[发明专利] 一种测量中子空间分布均匀性的方法 – CN114171105A 全文链接一   全文链接二

 
基本信息
申请号
CN202111459873.5
申请日
20211201
公开(公告)号
CN114171105A
公开(公告)日
20220311
申请(专利权)人
散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
申请人地址
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区总部二路2号光大数字家庭(推广名:光大we谷)一区1栋1号楼1316号房
发明人
胡志良;于全芝;梁天骄;周斌 专利类型 发明专利
摘要
本发明公开了一种测量中子空间分布均匀性的方法,测试器件或设备有存储功能,且测试器件或设备呈阵列或圆面排布,配置器件或设备的内部存储设备,向所述内部存储设备中写入初始值,回读所述内部存储设备中写入值得到第一回读结果,进行辐照,辐照时回读所述内部存储设备中的写入值得到第二回读结果,比较第一回读结果和第二回读结果,统计二者数据不一致出现的次数,即发生的错误数,通过将辐照时的回读结果与辐照前的回读结果相比较,统计二者数据不一致出现的次数,即发生的错误数,直至错误数达到预设的错误数时停止试验,对比各存储类器件或设备的错误数,进而评价中子束流通量分布均匀性。
主权项
1.一种测量中子空间分布均匀性的方法,包括计算机(1),其特征在于:S1:测试器件或设备有存储功能,且测试器件或设备呈阵列或圆面排布;S2:配置器件或设备的内部存储设备,向所述内部存储设备中写入初始值,回读所述内部存储设备中写入值得到第一回读结果(4);S3:进行辐照(6),辐照(6)时回读所述内部存储设备中的写入值得到第二回读结果(5),比较第一回读结果(4)和第二回读结果(5),统计二者数据不一致出现的次数,即发生的错误数;S4:重复步骤S3直至单个存储器件或设备的错误数均达到预设的错误数时,停止试验,对比所有测试器件或设备中发生的错误数,进而评价中子束流通量分布均匀性。

 

 
IPC信息
IPC主分类号
G11C29/50
G 物理

G11 信息存储

G11C 静态存储器

G11C29/50 容限测试,例如,竞争、电压或电流测试〔8〕

 

 
法律状态信息
法律状态公告日
20220311
法律状态
公开 法律状态信息
CN202111459873 20220311 公开 公开

 

 
代理信息
代理机构名称
广东众达律师事务所 44431
代理人姓名
张雪华