[发明专利] 一种材料识别方法、装置及存储介质 – CN114137004A 全文链接一   全文链接二

 
基本信息
申请号
CN202111356516.6
申请日
20211116
公开(公告)号
CN114137004A
公开(公告)日
20220304
申请(专利权)人
中国原子能科学研究院
申请人地址
102413 北京市房山区新镇三强路1号院
发明人
高春宇;汤秀章;陈欣南 专利类型 发明专利
摘要
本发明公开了一种材料识别方法、装置及存储介质,方法包括:获取穿过部署待识别材料的探测区域的多个辐射粒子中,每个粒子对应的近似散射点和散射角;将探测区域划分为多个子区域,并针对多个子区域中每个子区域,从多个辐射粒子中,选取出对应近似散射点位于子区域内的辐射粒子,确定为对应的辐射粒子;针对多个子区域中每个子区域,基于对应的辐射粒子的散射角,确定对应的散射密度,得到与多个子区域一一对应的多个散射密度;利用预设材料识别模型,基于多个散射密度对待识别材料进行材料类型识别,得到待识别材料的材料类型识别结果。通过上述技术方案,提高了材料识别的效率。
主权项
1.一种材料识别方法,其特征在于,所述方法包括:获取穿过部署待识别材料的探测区域的多个辐射粒子中,每个粒子对应的近似散射点和散射角;将所述探测区域划分为多个子区域,并针对所述多个子区域中每个子区域,从所述多个辐射粒子中,选取出对应近似散射点位于子区域内的辐射粒子,确定为对应的辐射粒子;针对所述多个子区域中每个子区域,基于对应的辐射粒子的散射角,确定对应的散射密度,得到与所述多个子区域一一对应的多个散射密度;利用预设材料识别模型,基于所述多个散射密度对所述待识别材料进行材料类型识别,得到所述待识别材料的材料类型识别结果。

 

 
IPC信息
IPC主分类号
G01N23/20
G 物理

G01 测量;测试

G01N 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料

G01N23/20 利用辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用辐射的反射

 

 
法律状态信息
法律状态公告日
20220304
法律状态
公开 法律状态信息
CN202111356516 20220304 公开 公开

 

 
代理信息
代理机构名称
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人姓名
何娜;张颖玲