[发明专利] 一种材料识别方法、装置及存储介质 – CN114137004A 全文链接一 全文链接二
| 基本信息 | |||
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申请号
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CN202111356516.6 |
申请日
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20211116 |
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公开（公告）号
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CN114137004A |
公开（公告）日
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20220304 |
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申请（专利权）人
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中国原子能科学研究院 | ||
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申请人地址
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102413 北京市房山区新镇三强路1号院
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发明人
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高春宇;汤秀章;陈欣南 | 专利类型 | 发明专利 |
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摘要
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本发明公开了一种材料识别方法、装置及存储介质，方法包括：获取穿过部署待识别材料的探测区域的多个辐射粒子中，每个粒子对应的近似散射点和散射角；将探测区域划分为多个子区域，并针对多个子区域中每个子区域，从多个辐射粒子中，选取出对应近似散射点位于子区域内的辐射粒子，确定为对应的辐射粒子；针对多个子区域中每个子区域，基于对应的辐射粒子的散射角，确定对应的散射密度，得到与多个子区域一一对应的多个散射密度；利用预设材料识别模型，基于多个散射密度对待识别材料进行材料类型识别，得到待识别材料的材料类型识别结果。通过上述技术方案，提高了材料识别的效率。 | ||
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主权项
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1.一种材料识别方法，其特征在于，所述方法包括：获取穿过部署待识别材料的探测区域的多个辐射粒子中，每个粒子对应的近似散射点和散射角；将所述探测区域划分为多个子区域，并针对所述多个子区域中每个子区域，从所述多个辐射粒子中，选取出对应近似散射点位于子区域内的辐射粒子，确定为对应的辐射粒子；针对所述多个子区域中每个子区域，基于对应的辐射粒子的散射角，确定对应的散射密度，得到与所述多个子区域一一对应的多个散射密度；利用预设材料识别模型，基于所述多个散射密度对所述待识别材料进行材料类型识别，得到所述待识别材料的材料类型识别结果。 | ||
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IPC信息
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IPC主分类号
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G01N23/20 | ||
| G 物理
G01 测量；测试 G01N 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 G01N23/20 利用辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用辐射的反射 |
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法律状态信息
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法律状态公告日
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20220304 |
法律状态
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公开 | 法律状态信息 |
CN202111356516 20220304 公开 公开
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代理信息
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代理机构名称
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北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 |
代理人姓名
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何娜;张颖玲 |