[发明专利] 一种时空涡旋光束的测量装置 – CN114112028A 全文链接一   全文链接二

 
基本信息
申请号
CN202111357065.8
申请日
20211116
公开(公告)号
CN114112028A
公开(公告)日
20220301
申请(专利权)人
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址
201800 上海市嘉定区清河路390号
发明人
刘军;黄舜林;王鹏;申雄 专利类型 发明专利
摘要
一种时空涡旋光束的测量装置,在所述的时空涡旋光束的传输方向依次设置衍射模块和成像处理模块;所述的时空涡旋光束经所述的衍射模块使该时空涡旋光束的光谱在空间上展开,形成衍射图案;所述的成像处理模块对入射的衍射图案进行成像,获得时空涡旋光束的拓扑荷值。本发明结构简单,可以直接快速的检测入射光束的轨道角动量的拓扑荷值,不需要算法来恢复轨道角动量的拓扑荷值。可以用在不同波段的时空涡旋光束的检测,波长可覆盖深紫外,紫外,可见光,及中远红外等整个光波波段和太赫兹波段。在基于时空涡旋光束的光通信方面有重大应用,为实现基于时空涡旋光束的光通信提供了快速检测的方法和装置。
主权项
1.一种时空涡旋光束的测量装置,其特征在于,在所述的时空涡旋光束的传输方向依次设置衍射模块(1)和成像处理模块(2);所述的时空涡旋光束经所述的衍射模块(1)使该时空涡旋光束的光谱在空间上展开,形成衍射图案;所述的成像处理模块(2)对入射的衍射图案进行成像,获得时空涡旋光束的拓扑荷值。

 

 
IPC信息
IPC主分类号
G01J1/42
G 物理

G01 测量;测试

G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法

G01J1/42 采用电辐射检测器(光学或机械部件入G01J1/04;与基准光或基准电参数作比较的入G01J1/10)

 

 
法律状态信息
法律状态公告日
20220301
法律状态
公开 法律状态信息
CN202111357065 20220301 公开 公开

 

 
代理信息
代理机构名称
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317
代理人姓名
张宁展