[发明专利] 一种基于单粒子效应的存储器位图解析方法及系统 – CN114065692A 全文链接一 全文链接二
| 基本信息 | |||
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申请号
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CN202111322447.7 |
申请日
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20211109 |
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公开（公告）号
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CN114065692A |
公开（公告）日
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20220218 |
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申请（专利权）人
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中国科学院近代物理研究所 | ||
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申请人地址
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730013 甘肃省兰州市城关区南昌路509号
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发明人
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郭金龙;杜广华;毛光博 | 专利类型 | 发明专利 |
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摘要
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本发明涉及一种基于单粒子效应的存储器位图解析方法及系统，其特征在于，包括：获取待解析存储器芯片的单粒子效应多位翻转数据；根据获取的单粒子效应多位翻转数据，判定子字节的结构；根据子字节的结构，判定待解析存储器芯片的交错类型，本发明能够以较小的代价获得高可信度的存储器交错类型，可以广泛应用于集成电路领域中。 | ||
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主权项
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1.一种基于单粒子效应的存储器位图解析方法，其特征在于，包括：获取待解析存储器芯片的单粒子效应多位翻转数据；根据获取的单粒子效应多位翻转数据，判定子字节的结构；根据子字节的结构，判定待解析存储器芯片的交错类型。 | ||
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IPC信息
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IPC主分类号
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G06F30/392 | ||
| G 物理
G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理 |
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法律状态信息
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法律状态公告日
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20220218 |
法律状态
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公开 | 法律状态信息 |
CN202111322447 20220218 公开 公开
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代理信息
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代理机构名称
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北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人姓名
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王胥慧 |