[发明专利] 一种针对宇航用核心元器件的全温老炼测试系统及其方法 – CN114076859A 全文链接一 全文链接二
| 基本信息 | |||
|---|---|---|---|
|
申请号
|
CN202010831342.3 |
申请日
|
20200818 |
|
公开（公告）号
|
CN114076859A |
公开（公告）日
|
20220222 |
|
申请（专利权）人
|
中国科学院国家空间科学中心 | ||
|
申请人地址
|
100190 北京市海淀区中关村南二条1号
|
||
|
发明人
|
杜磊;李哲;刘红民;牟娇;闫毅 | 专利类型 | 发明专利 |
|
摘要
|
本发明属于宇航用元器件的可靠性测试技术领域，具体地说，涉及一种针对宇航用核心元器件的全温老炼测试系统，该系统包括彼此相连的上位机、测试老炼电路和定制专用高低温箱；所述定制专用高低温箱，用于为每个待测元器件提供各自的高温或低温老炼环境；所述测试老炼电路，用于采集每个待测元器件的性能测试数据和功能测试数据，并根据采集的性能测试数据和功能测试数据，对每个待测元器件进行性能测试和功能测试，得到性能测试结果和功能测试结果，并将其上传至上位机；所述上位机，用于根据接收的性能测试结果和功能测试结果，判断每个待测元器件是否符合航天任务要求，并显示判断结果。 | ||
|
主权项
|
1.一种针对宇航用核心元器件的全温老炼测试系统，其特征在于，该测试老炼系统为刀架结构，该系统包括彼此相连的上位机、测试老炼电路和定制专用高低温箱；上位机与测试老炼电路通过串口服务器相连接；所述定制专用高低温箱内设置测试子板，且在测试子板上设置多个待测元器件；每个待测元器件通过电源连接器和信号连接器，与测试老炼电路相连接；为每个待测元器件提供各自的高温或低温老炼环境；所述测试老炼电路，用于采集每个待测元器件的性能测试数据和功能测试数据，并根据采集的性能测试数据和功能测试数据，对每个待测元器件进行性能测试和功能测试，得到性能测试结果和功能测试结果，并将其上传至上位机；所述上位机，用于根据接收的性能测试结果和功能测试结果，判断每个待测元器件是否符合航天任务要求，并显示判断结果。 | ||
|
IPC信息
|
|||
|---|---|---|---|
|
IPC主分类号
|
G01R31/00 | ||
| G 物理
G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量 G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置(测量引线，测量探针入G01R1/06；指示开关机构或保护装置的电气状况入H01H71/04，H01H73/12，H02B11/10，H02H3/04；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46) |
|||
|
法律状态信息
|
|||||
|---|---|---|---|---|---|
|
法律状态公告日
|
20220222 |
法律状态
|
公开 | 法律状态信息 |
CN202010831342 20220222 公开 公开
|
|
代理信息
|
|||
|---|---|---|---|
|
代理机构名称
|
北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 |
代理人姓名
|
李彪;武玥 |