[发明专利] 一种用于远紫外波段气辉探测的光度计及其探测方法 – CN114076636A 全文链接一 全文链接二
| 基本信息 | |||
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申请号
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CN202010835880.X |
申请日
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20200819 |
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公开（公告）号
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CN114076636A |
公开（公告）日
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20220222 |
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申请（专利权）人
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中国科学院国家空间科学中心 | ||
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申请人地址
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100190 北京市海淀区中关村南二条1号
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发明人
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付利平;贾楠;王天放;彭如意;肖思;付建国;白雪松;李睿智 | 专利类型 | 发明专利 |
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摘要
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本发明涉及一种用于远紫外波段气辉探测的光度计及其探测方法，所述光度计包括离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管，所述离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管依次排序设置；其中，所述离轴抛物面反射镜表面镀远紫外带通反射膜；所述透射式带通滤光片的基底材料为MgF2晶体或LiF2晶体，在MgF2或LiF2晶体片表面镀多层膜，其中，多层膜膜材料为Al和MgF2；所述长波通滤光片为BaF2晶体窗口。该光度计可对135.6nm气辉辐射实现全天时、高灵敏度探测，既保证仪器的高灵敏度，又保证高带外抑制比和窄带测量，保证高精度探测数据的获取。 | ||
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主权项
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1.一种用于远紫外波段气辉探测的光度计，包括离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管，其特征在于，所述离轴抛物面反射镜、透射式带通滤光片、长波通滤光片和光电倍增管依次排序设置；其中，所述离轴抛物面反射镜表面镀远紫外带通反射膜；所述透射式带通滤光片的基底材料为MgF2晶体或LiF2晶体，在MgF2或LiF2晶体片表面镀多层膜，其中，多层膜的膜材料为Al和MgF2；所述长波通滤光片为BaF2晶体窗口。 | ||
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IPC信息
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IPC主分类号
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G01J3/02 | ||
| G 物理
G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 G01J3/02 零部件 |
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法律状态信息
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法律状态公告日
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20220222 |
法律状态
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公开 | 法律状态信息 |
CN202010835880 20220222 公开 公开
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代理信息
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代理机构名称
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北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 |
代理人姓名
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武玥;张红生 |